Effect of Repeated Annealing on Structural and Electrical Properties of Compound TI2-XHgXSr2-yBayCa2Cu3O10+δ
محتوى المقالة الرئيسي
الملخص
تضمنت الدراسة تحضير عينات المركب TI2-XHgXSr2-yBayCa2Cu3O10+δ بطريقة تفاعل الحالة الصلبة وتحت درجات حرارة مختلفة وضغوط هيدروستاتيكية مختلفة، اذ وجد أن درجة حرارة تلدين هي 850°C وضغط هيدروستاتيكي 8ton/cm2 تمثل افضل ضروف للتحضير. أظهرت دراسة حيود الأشعة السينية للعينات بأنها ذات تركيب بلوري من النوع الرباعي القائم. كما اظهرت بأن التركيب عند نسب مختلفة لـ (x,y) تســـــاوي( x=0.3), y=(0.1, 0.2) بقي محافظاً على صيغة الرباعي القائم. من خلال فحص التركيب البلوري، وجدنا أن درجة الحرارة الحرجة للمركب 144K وذلك عند نسبة التعويض (x=0.3, y=0.1)، تم تكرار التلدين على نفس العينات وأظهرت دراسة فحص التركيب البلوري بأن التركيب يبقى محافظاً على النوع الرباعي القائم بعد التلدين الثاني. حيث وجدنا أن درجة الحرارة الحرجة للمركب ازدادت من 144K إلى 147K وذلك عند نسبة التعويض (x=0.3, y=0.2)، كذلك تم فحص التركيب البلوري السطحي والكمي والنوعي للعينات بواسطة المجهر الالكتروني الماسح، كما تم معرفة نسب العناصر في المركب وتحديد نسبة الأوكسجين والتركيب الكمي للعناصر في المركب.
تفاصيل المقالة

هذا العمل مرخص بموجب Creative Commons Attribution 4.0 International License.